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                英國Jandel可調節高度自動探頭的產品類別
                更新時間:2023-10-27   點擊次數:1334次

                公司簡介:

                Jandel工程有限公司提供了可調節高度探針臺的自動Z運動(AFPP)用于進行四點探針測量。

                AFPP可以用于測量各種各樣的小樣本大小薄層和300毫米晶圓錠250毫米高(厚的樣品安置在請求)。

                可以使用AFPP獨立提供的電源適配器,或者可以動力和由Jandel RM3000使用單一鉛連接這兩個工具之間。

                英國Jandel可調節高度自動探頭產品類別:

                l jandel四探針探頭

                l jandel四探針

                l jandel探頭

                l jandel探針臺

                主要型號:

                設備尺寸

                1.可調節高度測試臺:W×L×H(mm)320×370×8

                2.AFPP主機:W×L×H(mm)64×215×67

                3.可調節高度軸桿:d(mm)19;L(mm)200(可定制額高度到1000mm)

                A-D型號和E-H型號

                產品介紹:

                l 可測晶片直徑:直徑d≤300mm

                l 可測晶片厚度:高度h≤250mm

                l 自動停機:具有接觸到樣品的傳感器(通過傳感器檢測接觸到樣品)

                l 手動控制:遠程控制

                l Jandel-RM300能夠提供電源和樣品接觸

                優勢特點:

                系統配置

                組成部件(產品配置):

                1.測試臺——1個

                2. AFPP主機——1個

                3.可調節高度的軸桿——1根

                4.四探針探頭——1個

                5.電纜線——一根

                英國Jandel可調節高度自動探頭主要應用:

                用于半導體行業以及大學,實驗室工作和研究應用的電阻率測量設備。



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